| 发明名称 | 荧光X射线分析用渣试样的制备方法及取样器 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种荧光X射线分析用渣试样的制备方法，其特征在于，将具有平滑外面的金属制中空多角柱浸渍在熔融渣中后立即提出，将该中空多角柱的外面固着的渣与该中空多角柱的接触面作为分析面。本发明还提供了该方法中使用的渣取样器。因此，在铁钢等熔融金属的冶炼工艺中，能够迅速而且正确地对渣进行分析、并能够在所得的分析结果的基础上、对精炼操作在线上给予指示。 | ||
| 申请公布号 | CN1202410C | 申请公布日期 | 2005.05.18 |
| 申请号 | CN99801941.0 | 申请日期 | 1999.08.20 |
| 申请人 | 杰富意钢铁株式会社 | 发明人 | 山本公;槙石规子;谷本亘 |
| 分类号 | G01N1/10;G01N33/20 | 主分类号 | G01N1/10 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 邰红;杨丽琴 |
| 主权项 | 1.荧光X射线分析用渣试样的制备方法，其特征在于，将具有平滑外面的金属制中空多角柱浸渍在熔融渣中后立即提出，将该中空多角柱的外面固着的渣与该中空多角柱的接触面作为分析面。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||