| 发明名称 | 隐藏带测试模式的图像传感器中的缺陷像素的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种隐藏具有测试模式的图像传感器中的有缺陷像素的方法。根据本发明的图像传感器中缺陷像素的隐藏方法，包括下列步骤：a)搜索白色像素，并且为测试模式临时存储所述白色像素的位置；b)搜索黑色像素，并且临时存储所述黑色像素的位置；c)存储作为缺陷像素的黑色和白色像素的位置，并且为测试模式接收来自物体的图像；d)把与来自物体的图像相关的像素的位置与缺陷像素的位置比较，并且通过插补为缺陷像素合成一图像。 | ||
| 申请公布号 | CN1617563A | 申请公布日期 | 2005.05.18 |
| 申请号 | CN200410074926.1 | 申请日期 | 2001.10.25 |
| 申请人 | 金显殷;马格纳奇普半导体有限公司 | 发明人 | 金显殷 |
| 分类号 | H04N1/028;H04N5/335;H04N5/225 | 主分类号 | H04N1/028 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹;邵亚丽 |
| 主权项 | 1.一种图像传感器中缺陷像素的隐藏方法，包括下列步骤：a)搜索白色像素，并且为测试模式临时存储所述白色像素的位置；b)搜索黑色像素，并且临时存储所述黑色像素的位置；c)存储作为缺陷像素的黑色和白色像素的位置，并且为测试模式接收来自物体的图像；d)把与来自物体的图像相关的像素的位置与缺陷像素的位置比较，并且通过插补为缺陷像素合成一图像。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||