发明名称 氮化铝单晶薄膜及其制备方法
摘要 本发明公开了一种氧化镁单晶基片上的氮化铝薄膜及其制备方法,采用射频磁控溅射方法在衬底台不加热的情况下,在氧化镁单晶基片上生长氮化铝薄膜,该薄膜和氧化镁单晶基片衬底间晶格匹配良好,薄膜质量高。本发明广泛应用于微电子和超导电子领域中的高温、高频、大功率和短波长光电器件、压力传感器和热辐射传感器、高频声表面波器件以及电子器件的绝缘层和钝化层的制备和研究。
申请公布号 CN1202281C 申请公布日期 2005.05.18
申请号 CN03132208.5 申请日期 2003.07.31
申请人 南京大学 发明人 康琳;吴培亨;蔡卫星;施建荣;陈亚军
分类号 C23C14/35;C23C14/08;H01L21/00 主分类号 C23C14/35
代理机构 南京苏高专利事务所 代理人 柏尚春
主权项 1、一种氮化铝单晶薄膜,包括单晶基片和在其表面生长的氮化铝薄膜(1),其特征是:所述单晶基片是氧化镁单晶基片(2)。
地址 210093江苏省南京市汉口路22号