发明名称 | 氮化铝单晶薄膜及其制备方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种氧化镁单晶基片上的氮化铝薄膜及其制备方法,采用射频磁控溅射方法在衬底台不加热的情况下,在氧化镁单晶基片上生长氮化铝薄膜,该薄膜和氧化镁单晶基片衬底间晶格匹配良好,薄膜质量高。本发明广泛应用于微电子和超导电子领域中的高温、高频、大功率和短波长光电器件、压力传感器和热辐射传感器、高频声表面波器件以及电子器件的绝缘层和钝化层的制备和研究。 | ||
申请公布号 | CN1202281C | 申请公布日期 | 2005.05.18 |
申请号 | CN03132208.5 | 申请日期 | 2003.07.31 |
申请人 | 南京大学 | 发明人 | 康琳;吴培亨;蔡卫星;施建荣;陈亚军 |
分类号 | C23C14/35;C23C14/08;H01L21/00 | 主分类号 | C23C14/35 |
代理机构 | 南京苏高专利事务所 | 代理人 | 柏尚春 |
主权项 | 1、一种氮化铝单晶薄膜,包括单晶基片和在其表面生长的氮化铝薄膜(1),其特征是:所述单晶基片是氧化镁单晶基片(2)。 | ||
地址 | 210093江苏省南京市汉口路22号 |