发明名称 具有时间戳系统的紧凑的自动测试设备
摘要 一种精确的时间测量电路(100)。本设计目的在于作为CMOS集成电路实现,使该电路适用于高度集成的系统,诸如需要多个时间测量电路的自动测试设备。本电路使用延时锁定回路(210)产生多个信号,这些信号按时距D延时。该信号提供给一排延迟元件(230),每一个延迟元件具有稍微不同的延时,第一个和最后一个延迟元件之间的延时的差大于D。通过寻找TAP信号中的一个与延时信号中的一个的重合获得了精确的时间测量结果。该电路相比于具有相同分支数目的基于传统延迟线的时间测量电路具有更高的精度。因此本电路提供了准确性和快的复用时间,并且更不易受噪声的影响。
申请公布号 CN1618027A 申请公布日期 2005.05.18
申请号 CN02828015.6 申请日期 2002.12.11
申请人 泰拉丁公司 发明人 罗纳德·A·萨尔特谢维;徐军
分类号 G01R31/3193;G01R31/319;G11C29/00 主分类号 G01R31/3193
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 钟强;谷惠敏
主权项 1.一种时间测量电路,包括:a)时钟输入端;b)延时串,其具有连接到时钟输入端的输入端,该延时串具有众多延迟元件,每个延迟元件具有输出端和位于每个延迟元件输出端的标签;c)STOP输入端;d)第二组延迟元件,每个延迟元件具有输入端,并且每个延迟元件提供输入和输出之间的延时,其中第二组延迟元件的每一个元件的输入端联结到STOP输入端;和e)重合电路,其具有第一组输入端,第一组输入端的每一个联结到标签中的一个和第二组输入端,第二组输入端的每一个联结到第二组延迟元件中一个的输出,和输出端,该输出端表示标签中的一个和第二组延迟元件输出中的一个重合。
地址 美国马萨诸塞州