发明名称 |
高分子化合物、光致抗蚀剂材料及图案形成方法 |
摘要 |
光致抗蚀剂材料的基础树脂,由含有以式1这样的通式表示的第一单元和以式2这样的通式表示的第二单元的高分子化合物构成。由此而提供一种对波长小于等于300nm带的曝光光的透过性优良、基板密接性、显影溶解性优良的光致抗蚀剂材料。 |
申请公布号 |
CN1616501A |
申请公布日期 |
2005.05.18 |
申请号 |
CN200410080711.0 |
申请日期 |
2004.10.08 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
岸村真治;远藤政孝;屉子胜;上田充;饭森弘和;福原敏明 |
分类号 |
C08F28/04;C08G75/30;G03F7/004 |
主分类号 |
C08F28/04 |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 |
代理人 |
杨宏军 |
主权项 |
1.一种高分子化合物,其特征在于:其含有以式1这样的通式表示的第一单元和以式2这样的通式表示的第二单元且重均分子量大于等于1000且小于等于500000,式1<img file="A2004100807110002C1.GIF" wi="289" he="485" />式2<img file="A2004100807110002C2.GIF" wi="414" he="491" />R<sup>1</sup>、R<sup>2</sup>及R<sup>3</sup>相同或不同,为氢原子、氟原子、碳原子的个数大于等于1且小于等于20的直链烷基、支链或环烷基、或者氟代烷基;R<sup>4</sup>为碳原子的个数大于等于0且小于等于20的直链亚烷基、或者支链或环亚烷基;R<sup>5</sup>及R<sup>6</sup>相同或不同,为氢原子、碳原子的个数大于等于1且小于等于20的直链烷基、支链或环烷基、氟代烷基、或者利用酸脱离出来的保护基;R<sup>7</sup>为亚甲基、氧原子、硫原子、或者-SO2-;R<sup>8</sup>、R<sup>9</sup>、R<sup>10</sup>及R<sup>11</sup>相同或不同,为氢原子、氟原子、羟基、-OR<sup>13</sup>、-CO<sub>2</sub>R<sup>13</sup>、-R<sup>12</sup>-OR<sup>13</sup>-或者-R<sup>12</sup>-CO<sub>2</sub>R<sup>13</sup>;R<sup>8</sup>、R<sup>9</sup>、R<sup>10</sup>及R<sup>11</sup>中至少有一个含有:-OR<sup>13</sup>、-CO<sub>2</sub>R<sup>13</sup>、-R<sup>12</sup>-OR<sup>13</sup>-或者-R<sup>12</sup>-CO<sub>2</sub>R<sup>13</sup>(R<sup>12</sup>为碳原子的个数大于等于1且小于等于20的直链亚烷基、支链或环亚烷基、或者氟代亚烷基;R<sup>13</sup>为氢原子、碳原子的个数大于等于1且小于等于20的直链烷基、支链或环烷基、氟代烷基、或者利用酸脱离出来的保护基);a满足0<a<1,b满足0<b<1,c为0或者1。 |
地址 |
日本大阪府 |