发明名称 非挥发性记忆体及其制造方法
摘要 一种非挥发性记忆体的制造方法,此方法系先提供基底。于此基底上形成穿隧介电层后,进行高密度电浆化学气相沈积制程,于穿隧介电层上形成电荷陷入层。接着,于电荷陷入层上形成阻挡介电层,并于阻挡介电层上形成闸极。然后,于闸极两侧之基底中形成源极/汲极区。
申请公布号 TW200516721 申请公布日期 2005.05.16
申请号 TW092130677 申请日期 2003.11.03
申请人 国立中山大学 发明人 张鼎张;颜硕廷;刘柏村;陈纪文;蔡宗鸣;戴亚翔;施敏
分类号 H01L21/8247 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 高雄市鼓山区莲海路70号