| 发明名称 |
Probe station with low inductance path |
| 摘要 |
A probe assembly suitable for high-current measurements of an electrical device.
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| 申请公布号 |
US2005099192(A1) |
申请公布日期 |
2005.05.12 |
| 申请号 |
US20030672655 |
申请日期 |
2003.09.25 |
| 申请人 |
DUNKLEE JOHN;COWAN CLARENCE E. |
发明人 |
DUNKLEE JOHN;COWAN CLARENCE E. |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/02 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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