发明名称 快取记忆体及其控制方法
摘要 本发明之快取记忆体为一使用一集合相联系统之快取记忆体,以产生可显示一快取资料之正确性的验证位元,其中包含一标签记忆体1,以储存一快取资料位址之位址标签以及一显示位于一组区块中并对应于一索引之该快取资料之正确性的第一验证位元;一验证位元暂存器2,以储存一对应于该第一验证位元的一第二验证位元,并重设该第二验证位元,而该验证位元系根据该第一验证位元以及该第二验证位元所产生。
申请公布号 TWI232377 申请公布日期 2005.05.11
申请号 TW092118998 申请日期 2003.07.11
申请人 NEC电子股份有限公司 发明人 町村广喜;南谷淳一郎
分类号 G06F12/08 主分类号 G06F12/08
代理机构 代理人 周良谋 新竹市东大路1段118号10楼;周良吉 新竹市东大路1段118号10楼
主权项 1.一种快取记忆体,使用一集合相联系统,以产生一显示一快取资料的正确性存在的验证位元,该快取记忆体更包含:a).储存区,储存一快取资料的位址之位址标签以及显示该对应于一索引的一组区块中之快取资料之正确性的第一验证位元;与b).重设工具,以储存对应于该第一验证位元的第二验证位元,并重设该第二验证位元,其中该验证位元是根据该第一验证位元以及该第二验证位元所产生。2.如申请专利范围第1项之快取记忆体,其中,当该第一验证位元以及该第二验证位元均显示正确时,该验证位元即显示正确,但在该第一验证位元或该第二验证位元其中之一显示不正确时,该验证位元即显示不正确。3.如申请专利范围第1项之快取记忆体,其中之该重设功能适用于每一方向。4.如申请专利范围第1项之快取记忆体,其中,当该重设工具重设该第二验证位元时,该第一验证位元即透过书写工具将该第一验证位元写入该储存区而将该第一验证位元清除。5.如申请专利范围第4项之快取记忆体,其中该第一验证位元系透过该书写工具而选择性地清除。6.一种控制方法,控制一使用集合相联系统之快取记忆体之重设,以产生一显示一快取资料的正确性存在之验证位元,该控制方法包含以下步骤:a).将一快取资料位址的位址标签以及一显示与一索引对应之一组区块中之该快取资料之正确性的第一验证位元储存起来;b).将对应于该索引之一第二验证位元储存起来;c).重设该第二验证位元;并d).根据该第一验证位元及该第二验证位元而产生该验证位元。7.如申请专利范围第6项之控制方法,其中,当该第一验证位元以及该第二验证位元均显示正确时,该验证位元即显示正确,但在该第一验证位元或该第二验证位元其中之一显示不正确时,该验证位元即显示不正确。8.如申请专利范围第6项之控制方法,其中,当重设该第二验证位元时,该位址标签以及该第一验证位元便储存起来并将该第一验证位元清除。9.如申请专利范围第8项之控制方法,其中该第一验证位元系选择性地清除。图式简单说明:图1显示一示意图,说明根据本发明实施例之快取记忆体其中所使用之系统之一组合范例。图2显示一示意图,说明根据本发明实施例之快取记忆体其中主要部分之一组合范例。图3(a)及(b)显示一时序图,说明根据本发明实施例之快取记忆体的操作。图4显示一示意图,说明根据本发明实施例之快取记忆体之一比较例。
地址 日本
您可能感兴趣的专利