| 发明名称 | 变形检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于检测一个元部件(1)的各种不同状态如变形状态、运动和载荷状态的装置，它具有一个发送器(2)和一个接收器(3)，它们是相互独立的，彼此间隔地布置在至少一个元部件上，还有一个分析处理单元(4)，其中发送器(2)发射电磁波(例如一种激光)或者一种聚焦的基本粒子射线束至接地器(3)。通过在一个反光镜上和在一个半透明的反光镜(9)上的多重反射能够提高空间分辨率。 | ||
| 申请公布号 | CN1201134C | 申请公布日期 | 2005.05.11 |
| 申请号 | CN00812542.2 | 申请日期 | 2000.06.23 |
| 申请人 | 英诺特克欧洲股份有限公司 | 发明人 | 弗朗兹·罗特纳;西格弗里德·皮珀;R·温克勒 |
| 分类号 | G01B11/16;G01D5/30 | 主分类号 | G01B11/16 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 苏娟 |
| 主权项 | 1.用于检测元部件(1)的各种不同状态，如变形状态、载荷状态和运动的装置，它具有一个向一个接收器(3)发送光束(5)的发送器(2)，接收器(3)和发送器(2)都相互独立地彼此间隔开布置在元部件(1)上，接收器(3)构成了一个如同一个相敏检测装置或者一个图形处理元件那样的光敏表面，而且该装置有一个分析处理单元(4)，其特征在于，发送器(2)在元部件(1)之外向接收器(3)发射一种电磁波、一种聚焦的声波或者一种聚焦的基本粒子射线束。 | ||
| 地址 | 德国沃姆斯 | ||