发明名称 检测电路板的方法及装置
摘要 本发明公开了一种检测电路板的方法,它是通过微处理器记录合格电路板上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数,掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数;再与通过微处理器记录待检测电路板上所述上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数,所述掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数;并将两者检测数据进行比较,即可判断所检测的电路板是否合格。采用上述技术方案,本发明避免了出现主观产生的误判现象。根据本发明制作的检测装置成本低廉,检测效率高。
申请公布号 CN1614436A 申请公布日期 2005.05.11
申请号 CN200310110921.5 申请日期 2003.11.07
申请人 深圳创维—RGB电子有限公司 发明人 吴伟;杨军治;卓成钰
分类号 G01R31/28;G01R31/317 主分类号 G01R31/28
代理机构 深圳创友专利商标代理有限公司 代理人 彭家恩
主权项 1、一种检测电路板的方法,包括如下步骤:1)确定测试点;2)在电路板上选择一个当电路板上电时立即出现高电平、断电时立即出现低电平的信号点作为微处理器的基准信号接入点;3)将合格电路板上步骤1)所述的各测试点接入微处理器各引脚(P1)和将步骤2)所述信号点接入微处理器作为基准信号,通过微处理器记录合格电路板上各测试点的如下检测数据:上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数,掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数;4)将待检测电路板上步骤1)所述的各测试点接入微处理器各引脚(P1)和将步骤2)所述信号点接入微处理器作为基准信号,通过微处理器记录待检测电路板上步骤1)所述各测试点的如下检测数据:步骤3)所述上电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数,步骤3)所述掉电测试等待时间之内各测试点每一次电位的变化后状态、变化时的时间和状态变化次数;5)在步骤4)进行的过程中,同时将微处理器记录的待检测电路板检测数据与步骤3)记录的合格电路板对应检测数据进行比较;6)若步骤5)的比较结果不相等,则给出出错信息;否则,继续执行步骤4),待步骤5)执行完毕,给出合格信息。
地址 518106广东省深圳市八卦岭工业区425栋