发明名称 填充间隙的方法与浅沟渠隔离结构的制造方法
摘要 本发明是关于一种填充间隙的方法与浅沟渠隔离结构的制造方法,该填充间隙的方法,是先提供一基底,且该基底上已形成有数个凸部,而且各个凸部之间是具有间隙。接着,在基底上形成第一介电层,以填入这些凸部之间的间隙,并覆盖这些凸部,其中所形成的第一介电层中具有数个缝隙,且这些缝隙的位置是高于凸部的顶部。然后,进行化学机械研磨法,移除部分第一介电层,以使缝隙打开,而形成数个开口。之后,进行非等向性蚀刻制程,以扩大这些开口的宽度。继之,在第一介电层上形成第二介电层,以填满开口。本发明可以避免现有知方法在凸部间的间隙填入介电材料时,会在介电材料层中产生缝隙的问题。从而更加适于实用,且具有产业上的利用价值。
申请公布号 CN1614752A 申请公布日期 2005.05.11
申请号 CN200310103442.0 申请日期 2003.11.03
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 吕前宏;苏金达;陈光钊
分类号 H01L21/31;H01L21/768;H01L21/76;H01L21/762 主分类号 H01L21/31
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人 寿宁;张华辉
主权项 1、一种填充间隙的方法,其特征在于其包括以下步骤:提供一基底,且该基底上已形成有复数个凸部,而且各该些凸部之间具有一间隙;在该基底上形成一第一介电层,以填入该些凸部之间的该间隙,并覆盖该些凸部,其中所形成的该第一介电层中具有复数个缝隙,且该些缝隙的位置是高于该些凸部的顶部;进行一化学机械研磨法,移除部分该第一介电层,以使该些缝隙打开,而形成复数个开口;进行一非等向性蚀刻制程,以扩大该些开口的宽度;以及在该第一介电层上形成一第二介电层,以填满该些开口。
地址 中国台湾