发明名称 |
半导体制造工艺和半导体器件制造工艺 |
摘要 |
一种以较低结晶温度和较短时间周期制造半导体的工艺,其工序是:在衬底上形成绝缘物涂层;将所述绝缘物涂层暴露到等离子体中:在上述暴露工序之后,在所述绝缘物涂层上形成非晶硅膜;并且在400到650℃或更高温度中,但不得高于衬底玻璃转换温度,热处理所述硅膜。成晶核部位是这样被控制的,选择性地将非晶硅膜暴露到等离子体中或选择性地施加一种物质,该物质含有起催化作用的元素。也披露了用同样方法制造簿膜晶体管的工艺。 |
申请公布号 |
CN1201380C |
申请公布日期 |
2005.05.11 |
申请号 |
CN00134482.X |
申请日期 |
1994.02.03 |
申请人 |
株式会社半导体能源研究所 |
发明人 |
高山彻;张宏勇;山崎舜平;竹村保彦 |
分类号 |
H01L21/335;H01L21/00;H01L21/324 |
主分类号 |
H01L21/335 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
张志醒 |
主权项 |
1.一种制造薄膜晶体管的方法,所述晶体管的有源层具有一沟道区,该方法包括下列步骤:用含催化剂的溶液涂覆半导体膜,以促进所述半导体膜晶化;加热所述涂覆有所述催化剂的半导体膜,使其晶化;往晶化半导体膜的预选区加入磷离子,所述预选区不包括所述薄膜晶体管的所述沟道区;和用灯对所述加有磷离子的晶化半导体膜进行热退火。 |
地址 |
日本神奈川县 |