| 发明名称 |
TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE IN WAFER STEP |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR20050041560(A) |
申请公布日期 |
2005.05.04 |
| 申请号 |
KR20030076769 |
申请日期 |
2003.10.31 |
| 申请人 |
MAGNACHIP SEMICONDUCTOR, LTD. |
发明人 |
LEE, SANG DAE |
| 分类号 |
G11C29/00;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
