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发明名称 TESTING INSTALLATION FOR MEMORY MODULE
摘要
申请公布号 KR20050040263(A) 申请公布日期 2005.05.03
申请号 KR20030075425 申请日期 2003.10.28
申请人 MICRO CONTACT SOLUTION CO., LTD 发明人 HWANG, DONG WON;LEE, SANG MYOUNG
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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