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经营范围
发明名称
MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD FOR IC-CHIP SHIELD
摘要
申请公布号
KR100486768(B1)
申请公布日期
2005.05.03
申请号
KR20020082313
申请日期
2002.12.23
申请人
发明人
分类号
H05K13/08;(IPC1-7):H05K13/08
主分类号
H05K13/08
代理机构
代理人
主权项
地址
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