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发明名称 MOUNT FOR MOUNTING A SAMPLE FOR INSPECTION BY A TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING A SAMPLE USING THE SAME
摘要
申请公布号 KR20050040364(A) 申请公布日期 2005.05.03
申请号 KR20030075553 申请日期 2003.10.28
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, MYOUNG RACK;LEE, SUN YOUNG
分类号 G01N1/28;G01N1/36;(IPC1-7):H01L21/304 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人
主权项
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