| 摘要 |
"MéTODOS PARA DETERMINAR A PROFUNDIDADE DE DEFEITOS." Um método para permitir a inspeção de uma superfície (28) de um componente, o método compreende posicionar a superfície do componente (10) a ser inspecionada no caminho ótico (24) de pelo menos um detetor (26) de radiação infravermelha, aquecer a superfície do componente usando uma radiação eletromagnética para causar um incremento na radiância de um defeito (70) presente na superfície do componente, e detectar as variações de temperatura na superfície do componente usando pelo menos um detetor de radiação infravermelha, de tal forma que a irradiação da superfície é medida em locais predeterminados ao longo da superfície do componente. O método ainda compreende detectar as rachaduras no componente através da análise dos dados de resposta transiente da radiação recebidos pelo detetor de radiação infravermelha, e correlacionar as variações de temperatura com os dados de resposta transiente da radiação para determinar a profundidade das rachaduras detectadas.
|
