发明名称 | 解析度量测装置及其方法 | ||
摘要 | 一种解析度量测装置及其方法,系利用所设计出之量测图样档案经过待量测列印装置输出至量测基板后,再由具放大图像效果之光学撷取设备来取得量测图样影像,并进行对其中各点图案组之点距的演算、记录与换算,以求得待量测列印装置真实的列印解析度。 | ||
申请公布号 | TW200515268 | 申请公布日期 | 2005.05.01 |
申请号 | TW092128874 | 申请日期 | 2003.10.17 |
申请人 | 财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 刘贞豪;陈俊融;杨孟达;李勇晋 |
分类号 | G06F3/12 | 主分类号 | G06F3/12 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 新竹县竹东镇中兴路4段195号 |