| 主权项 |
1.一种指纹对照方法,是属于使用指纹画像之指纹对照方法,其特征为:自所采取之指纹画像抽出ND(ND为4以上之整数)个的采取特征点,将连结各采取特征点和接近于该各采取特征点之LD(2≦LD≦ND-1,LD为整数)个的接近采取特征点之多数采取连结线所取得之采取数値群当作采取数値资讯而赋予至该各采取特征点,根据上述采取数値资讯,和各被赋予至NR(NR为4以上之整数)个之登记特征点的登记数値群之登记数値资讯的比较结果,使m(3≦m≦ND,m为整数)个之采取特征点各对应于m个登记特征点上,比较对照上述m个采取特征点间之位置关系,和上述m个登记特征点之位置关系。2.一种指纹对照方法,是属于使用指纹画像之指纹对照方法,其特征为:自所采取之指纹画像抽出ND(ND为4以上之整数)个的采取特征点,将连结各采取特征点和接近于该各采取特征点之LD(2≦LD≦ND-1,LD为整数)个的接近采取特征点之多数采取连结线所取得之采取数値群当作采取数値资讯而赋予至该各采取特征点,比较被赋予至采取特征点之采取数値群之各采取数値,和各被赋予至NR(NR为4以上之整数)个之登记特征点的登记数値群之各登记数値,将赋予有该登记数値之登记特征点分配至与登记数値一致的采取数値上,使用被分配至各采取数値之登记特征点,使m个采取特征点和m个登记特征点予以对应,比较对照上述m个采取特征点间之位置关系,和上述m个登记特征点之位置关系。3.如申请专利范围第2项所述之指纹对照方法,其中,删除采取数値群中不被分配登记特征点之采取数値为存有第1比例以上的采取特征点,使用被删除之采取特征点之外的被分配于采取特征点之各采取数値的登记特征点,使m个采取特征点和m个登记特征点予以对应,比较对照上述m个采取特征点间之位置关系,和上述m个登记特征点间之位置关系。4.如申请专利范围第2项所述之指纹对照方法,其中,使被分配于赋予在采取特征点之采取数値群之各采取数値之登记特征点为第2比例以上之相同登记特征点,与该采取特征点予以对应,于被对应于登记特征点之采取特征点之数量为m个以上之时,比较对照胎采取特征点间之位置关系,和被对应于该采取特征点之登记特征点间之位置关系。5.如申请专利范围第2项所述之指纹对照方法,其中,删除采取数値群中不被分配登记特征点之采取数値为存有第1比例以上的采取特征点,使被删除之采取特征点之外的被分配于采取特征群之各采取数値点的登记特征点为第2比例以上之相同登记特征点,与该采取特征点予以对应,于被对应于登记特征点之采取特征点之数量为m个以上之时,比较对照胎采取特征点间之位置关系,和被对应于该采取特征点之登记特征点间之位置关系。6.如申请专利范围第1项所述之指纹对照方法,其中,将自连结由应所登记之指纹画像中所抽出之NR个之登记特征点的各登记特征点,和接近于该各登记特征点之LR(2≦LR≦NR-1,LR为整数)个之接近登记特征点的多数登记连结线所取得之上述登记数値群,赋予至该各登记特征点上。7.如申请专利范围第2项所述之指纹对照方法,其中,将自连结自应所登记之指纹画像中所抽出之NR个之登记特征点的各登记特征点,和接近于该各登记特征点之LR(2≦LR≦NR-1,LR为整数)个之接近登记特征点的多数登记连结线所取得之上述登记数値群,赋予至该各登记特征点上。8.如申请专利范围第6项所述之指纹对照方法,其中,LR为LD以上。9.如申请专利范围第7项所述之指纹对照方法,其中,LR为LD以上。10.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记数値群之登记値是包含上述多数登记连结线之各登记连结线的长度,上述采取数値群之采取数値是包含上述多数采取连结线之采取连结线之各采取结线之长度。11.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记数値群之登记数値是包含上述多数登记连结线之各登记连结线彼此所构成之角度,上述采取数値群之采取数値是包含上述多数采取连结线之各采取连结线彼此所构成之角度。12.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记数値群之登记数値是包含上述多数登记连结线之各登记连结线之长度和各登记连结线彼此所构成之角度,上述采取数値群之采取数値是包含上述多数采取连结线之长度和该采取连结线彼此所构成之角度。13.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记数値群之登记数値,是于将登记特征点设为起点而所连结之登记连结线,当作该登记特征点设为起点之登记向量之时,包含以登记向量彼此所作成之内积値,上述采取数値群之采取数値,是于将采取特征点设为起点而所连结之采取连结线,当作该采取特征点设为起点之采取向量之时,包含以采取向量彼此所作成之内积値。14.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记数値群之登记数値是包含横穿上述多数登记连结线之指纹棱线数,上述采取数値群之采取数値是包含横穿上述多数之采取连结线之各采取连结线之指纹棱线数。15.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记数値群之登记数値是包含横穿上述多数登记连结线之各登记连结线的指纹棱线数和该各登记连结线彼此所构成之角度,上述采取数値群之采取数値是包含横穿上述多数采取连结线之各采取连结线之指纹棱线数,和该各采取连结线彼此所构成之角度。16.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记数値群之登记数値于定义成将横穿登记连结线之指纹棱线数当作向量长而将登记特征点设为起点之登记棱线向量之时,包含以登记棱线向量彼此所作成之内积値,上述采取数値群之采取数値是于定义成将横穿采取连结线之指纹棱线数当作向量长而将采取特征点设为起点之采取棱线向量之时,包含以采取棱线向量彼此所作成之内积値。17.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记特征点为第1种特征点之时,于该登记特征点上赋予实数单位値,上述登记特征点为第2种特征点之时,于该登记特征点上赋予虚数单位値,上述登记数値之登记数値是包含被赋予在位于上述登记连结线之两端上之登记特征点的实数单位値或虚数单位値和该登记连结线之长度的积,上述采取特征点为第1种特征点之时,于该采取特征点赋予实数单位値,上述采取特征点为第2种特征点之时,于该采取特征点赋予虚数单位値,上述采取数値群之采取数値是包含被赋予在位于上述采取连结线之两端上之采取特征点的实数单位値或虚数单位値和该采取连结线之长度的积。18.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记特征点为第1种特征点之时,于该登记特征点上赋予实数单位値,上述登记特征点为第2种特征点之时,于该登记特征点上赋予虚数单位値,上述登记数値之登记数値是包含被赋予在位于上述多数登记连结线中之2条登记连结线所构成之角度,和被赋予在位于该2条登记连结线之两端上之登记特征点的实数单位値或虚数单位値的积,上述采取特征点为第1种特征点之时,于该采取特征点赋予实数单位値,上述采取特征点为第2种特征点之时,于该采取特征点赋予虚数单位値,上述采取数値群之采取数値是包含被赋予在上述多数采取连结线中之2条采取连结线所构成之角度,和被赋予在位于该2条采取连结线之两端上之采取特征点的实数单位値或虚数单位値的积。19.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记特征点为第1种特征点之时,于该登记特征点上赋予实数单位値,上述登记特征点为第2种特征点之时,于该登记特征点上赋予虚数单位値,上述登记数値之登记数値是包含被赋予在位于上述登记连结线之两端上之登记特征点的实数单位値或虚数单位値和该登记连结线之长度的积,并且包含上述多数登记连结线中之2条登记连结线所构成之角度,和被赋予在该2条登记连结线之两端上之登记特征点的实数单位値或虚数单位値的积,上述采取特征点为第1种特征点之时,于该采取特征点赋予实数单位値,上述采取特征点为第2种特征点之时,于该采取特征点赋予虚数单位値,上述采取数値群之采取数値是包含被赋予在位于上述采取连结线之两端上之采取特征点的实数单位或虚数单位和该采取连结线之长度,并且包含上述多数采取连结线中之2条采取连结线所构成之角度,和被赋予在位于该2条采取连结线之两端上之采取特征点的实数单位値或虚数单位値的积。20.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记特征点为第1种特征点之时,于该登记特征点上赋予实数单位値,上述登记特征点为第2种特征点之时,于该登记特征点上赋予虚数单位値,上述登记数値之登记数値是于将登记特征点设为起点而所连结之登记连结线,当作该登记特征点设为起点之登记向量之时,包含以登记向量彼此所作成之内积値,和被赋予在位于该登记向量之起点及终点之登记特征点的实数单位値或虚数单位値的积,上述采取特征点为第1种特征点之时,于该采取特征点赋予实数单位値,上述采取特征点为第2种特征点之时,于该采取特征点赋予虚数单位値,上述采取数値群之采取数値是于将采取特征点设为起点而所连结之采取连结线,当作该采取特征点设为起点之采取向量之时,包含以采取向量彼此所作成之内积値,和被赋予在位于该采取向量之起点及终点之采取特征点的实数单位値或虚数单位値的积。21.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记特征点为第1种特征点之时,于该登记特征点上赋予实数单位値,上述登记特征点为第2种特征点之时,于该登记特征点上赋予虚数单位値,上述登记数値群之登记数値是包含被赋予在位于上述登记连结线之两端之登记特征点之实数单位値或虚数单位値,和横穿该登记连结线之指纹棱线数的积,上述采取特征点为第1种特征点之时,于该采取特征点赋予实数单位値,上述采取特征点为第2种特征点之时,于该采取特征点赋予虚数单位値,上述采取数値群之采取数値是包含被赋予在位于上述采取连结线之两端之采取特征点的实数单位値或虚数单位値,和横穿该采取连结线之指纹棱线数的积。22.如申请专利范围第6项至第9项中之任一项所述之指纹对照方法,其中,上述登记特征点为第1种特征点之时,于该登记特征点上赋予实数单位値,上述登记特征点为第2种特征点之时,于该登记特征点上赋予虚数单位値,上述登记数値群之登记数値是定义成将横穿登记连结线之指纹棱线数当作向量长而将登记特征点设为起点之登记棱线向量之时,包含以登记棱线向量彼此所作成之内积値和被赋予在位于该登记棱线向量之起点及终点之登记特征点的实数单位値或虚数单位値的积,上述采取特征点为第1种特征点之时,于该采取特征点赋予实数单位値,上述采取特征点为第2种特征点之时,于该采取特征点赋予虚数单位値,上述采取数値群之采取数値是于定义成将横穿采取连结线之指纹棱线数当作向量长而将采取特征点设为起点之采取棱线向量之时,包含以采取棱线向量彼此所作成之内积値和被赋予在位于该采取棱线向量之起点及终点之采取特征点的实数单位値或虚数单位値的积。23.如申请专利范围第17项所述之指纹对照方法,其中,上述第1种特征点为指纹棱线之端点,上述第2种特征点为指纹棱线之分歧点。24.如申请专利范围第17项所述之指纹对照方法,其中,上述第1种特征点为指纹棱线之分歧点,上述第2种特征点为指纹棱线之端点。25.一种指纹对照装置,其特征为:包含有自指纹画像抽出ND(ND为4以上之整数)个之采取特征点的特征点抽出部;将连结各采取特征点和接近于该各采取特征点之LD(2≦LD≦ND-1,LD为整数)个的接近采取特征点之多数采取连结线所取得之采取数値群当作采取数値资讯而赋予至该各采取特征点,根据上述采取数値资讯,和各被赋予至NR(NR为4以上之整数)个之豋记特征点的登记数値群之登记数値资讯的比较结果,使m(3≦m≦ND,m为整数)个之采取特征点各对应于m个登记特征点上的画像解析部;和比较对照上述m个采取特征点间之位置关系,和上述m个登记特征点之位置关系的对照部。26.如申请专利范围第25项所述之指纹对照装置,其中,包含读取上述指纹画像之指纹画像读取部。27.如申请专利范围第25项所述之指纹对照装置,其中,包含生成上述登记数値资讯之登记部,上述登记部是自连结由应所登记之指纹画像中所抽出之NR个之登记特征点的各登记特征点,和接近于该各登记特征点之LR(2≦LR≦NR-1,LR为整数)个之接近登记特征点的多数登记连结线所取得之上述登记数値群,生成被赋予在该各登记特征点的上述登记数値资讯。28.如申请专利范围第26项所述之指纹对照装置,其中,包含生成上述登记数値资讯之登记部,上述登记部是自连结由应所登记之指纹画像中所抽出之NR个之登记特征点的各登记特征点,和接近于该各登记特征点之LR(2≦LR≦NR-1,LR为整数)个之接近登记特征点的多数登记连结线所取得之上述登记数値群,生成被赋予在该各登记特征点的上述登记数値资讯。29.如申请专利范围第27项或第28项所述之指纹对照装置,其中,LR为LD以上。图式简单说明:第1图是表示指纹对照处理之流程概要的流程图。第2图是针对自指纹画像所抽出之特征点的说明图。第3图A、B是第1实施形态中被赋予于分歧点之数値资讯的说明图。第4图A、B是第1实施形态中被赋予于端点之数値资讯的说明图。第5图是第1实施形态之登记处理的流程图。第6图是表示自指纹画像所抽出之特征点之一例的说明图。第7图是表示赋予名称之特征点之一例的说明图。第8图是表示至第4接近采取特征点为止被连接线处理之例的说明图。第9图是第1实施形态之登记数値资讯之说明图。第10图是表示第1实施形态之指纹对照处理之一例的流程图。第11图是表示自对照对象之指纹画像所抽出之采取特征点之一例的说明图。第12图是表示至第3接近采取特征点为止被连结线处理之例的说明图。第13图是表示第1对照处理之结果的说明图。第14图是表示删除不一致采取特征点之后的特征点的说明图。第15图是表示至第3接近采取特征点为止连结线处理删除后之采取特征点之例的说明图。第16图是表示第2对照处理之结果的说明图。第17图A、B是第2实施形态之数値资讯的说明图。第18图A、B是第3实施形态之数値资讯的说明图。第19图A、B是第4实施形态之数値资讯的说明图。第20图A、B是第5实施形态之数値资讯的说明图。第21图A、B是第6实施形态之数値资讯的说明图。第22图A、B是第7实施形态之数値资讯的说明图。第23图A、B是第8实施形态之数値资讯的说明图。第24图A、B是第9实施形态中被赋予于分歧点之数値资讯的说明图。第25图A、B是第10实施形态中被赋予于分歧点之数値资讯的说明图。第26图A、B是第11实施形态中被赋予于分歧点之数値资讯的说明图。第27图A、B是第12实施形态中被赋予于分歧点之数値资讯的说明图。第28图A、B是第12实施形态中被赋予于端点之数値资讯的说明图。第29图A、B是第13实施形态中被赋予于分歧点之数値资讯的说明图。第30图是表示指纹对照装置之构成概要的方块图。第31图是表示指纹对照装置之硬体构成例的方块图。第32图是表示指纹探测器之构成一例的构成图。第33图是指纹探测器之静电电溶检测元件之剖面图。第34图是使指纹峰部接触于指纹探测器之介电体膜之时的静电电容检测元件的等效电路图。第35图是使指纹谷部接触于指纹探测器之介电体膜之时的静电电容检测元件的等效电路图。第36图A是以指纹探测器所配列之静电电容检测元件之说明图。第36图B是用以使以各静电电容检测元件所检测出之指纹凹凸成为1枚指纹画像之程序的说明图。第37图是模式性表示以适用于IC卡之指纹探测器执行指纹对照之操作者的手指图式。 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