发明名称 利用快速热退火与氧化气体形成底部抗反射涂层的方法
摘要 本发明提供一种方法,该方法包含于基板层(105)上形成栅极介电层(110,410),以及于栅极介电层(110,410)上形成栅极导体层(115,415)。该方法亦包括于栅极导体层(115,415)上形成无机底部抗反射涂覆层(120),以及于进行快速热退火处理期间以氧化处理法(130)处理无机底部抗反射涂覆层(120)。
申请公布号 CN1199240C 申请公布日期 2005.04.27
申请号 CN01809904.1 申请日期 2001.05.09
申请人 先进微装置公司 发明人 A·D·斯蒂芬;M·E·埃克斯特坎普;J·多恩
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 戈泊;程伟
主权项 1.一种方法,包括:于基板层(105)上形成一栅极介电层(110,410);于该栅极介电层(110,410)上形成一栅极导体层(115,415);于该栅极导体层(115,415)上形成一无机底部抗反射涂覆层(120);以及以氧化处理法(130)处理该无机底部抗反射涂覆层(120);此方法的特征在于:于快速热退火处理期间进行氧化处理。
地址 美国加利福尼亚州