发明名称 弯曲测试装置
摘要 一种弯曲测试装置,其系测试一待测物,且包含一基座、一支撑元件以及一施力元件。支撑元件系具有一凸部与一支撑部,支撑部系立设于基座上,凸部系连接于支撑部,待测物则藉穿过凸部而由支撑部承接;施力元件系具有一定位部以及复数个压掣部,压掣部系分别与定位部之相对两侧连设,定位部系具有一开口且开口系相对凸部而设,凸部系穿设过开口,俾使压掣部触接待测物之一表面进而压掣待测物以进行弯曲测试。
申请公布号 TWM262703 申请公布日期 2005.04.21
申请号 TW093214263 申请日期 2004.09.07
申请人 精碟科技股份有限公司 发明人 潘祥元
分类号 G01M5/00;G01L1/04 主分类号 G01M5/00
代理机构 代理人 刘正格 台北市大同区重庆北路3段88号3楼之1
主权项 1.一种弯曲测试装置,其系测试一待测物,包含: 一基座; 一支撑元件,其系具有一凸部与一支撑部,该支撑 部系立设于该基座上,该凸部系连接于该支撑部, 该待测物系穿过该凸部而由该支撑部承接;以及 一施力元件,其系具有一定位部以及复数个压掣部 ,该等压掣部系分别与该定位部之相对两侧连设, 该定位部系具有一开口且该开口系相对该凸部而 设,该凸部系穿设过该开口,俾使该等压掣部触接 该待测物之一表面且压掣该待测物弯曲。 2.如申请专利范围第1项所述之弯曲测试装置,更包 含: 一定位元件,其系凸设于该定位部,且该定位元件 系具有一容纳部,该开口系与该容纳部相连通而容 置穿设过该开口之凸部。 3.如申请专利范围第1项所述之弯曲测试装置,其中 该凸部系为一圆柱。 4.如申请专利范围第2项所述之弯曲测试装置,其中 该定位元件系为一空心圆柱,且该凸部系与该定位 元件相对套接。 5.如申请专利范围第1项所述之弯曲测试装置,其中 该等压掣部与该定位部之连接处系转折呈一角度 。 6.如申请专利范围第5项所述之弯曲测试装置,其中 该角度系为一直角。 7.如申请专利范围第1项所述之弯曲测试装置,其中 该待测物系为一光碟片。 图式简单说明: 图1为一显示本创作较佳实施例之弯曲测试装置的 爆炸示意图; 图2为一显示本创作较佳实施例之弯曲测试装置与 待测物组合的示意图; 图3为一显示本创作较佳实施例之另一种弯曲测试 装置的组合示意图;以及 图4A~4B为一显示本创作较佳实施例之弯曲测试装 置的具体实施示意图。
地址 台北县五股乡五权七路13号