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发明名称 SYSTEM FOR DETECTION OF SECONDARY AND BACKWARD SCATTERED ELECTRONS FOR USE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号 PL362826(A1) 申请公布日期 2005.04.18
申请号 PL20030362826 申请日期 2003.10.14
申请人 POLITECHNIKA WROCLAWSKA 发明人 SLOWKO WITOLD
分类号 H01J37/244;H01J37/28 主分类号 H01J37/244
代理机构 代理人
主权项
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