发明名称 不纯物导入层之形成方法及被处理物之洗净方法与不纯物导入装置及设备之制造方法
摘要 本发明之不纯物导入层之形成方法,至少包含有:于矽基板等固体基体之一主面上形成抗蚀层图案之步骤,于前述固体基体以离子模式之电浆掺杂法导入不纯物之步骤,除去前述抗蚀层之步骤,洗净前述固体基体表面之金属污染物、粒子之步骤,及热处理步骤,且,除去前述抗蚀层之步骤系对该抗蚀层照射氧电浆,或使该抗蚀层接触硫酸与双氧水之混合溶液,或NH4OH与H2O2与H2O之混合溶液。前述洗净步骤系使前述固体基体之一主面接触硫酸与双氧水之混合溶液,或NH4OH与H2O2与H2O之混合溶液,又,除去前述抗蚀层之步骤与洗净步骤系藉由使前述抗蚀层与固体基体之一主面接触硫酸与双氧水之混合溶液,或NH4OH与H2O2与H2O之混合溶液来同时进行。
申请公布号 TW200514117 申请公布日期 2005.04.16
申请号 TW093125524 申请日期 2004.08.26
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 佐佐木雄一朗;冈下胜己;水野文二;伊藤裕之;金成国;田村秀贵;中山一郎;奥村智洋;前聪
分类号 H01J37/317;H01J37/248 主分类号 H01J37/317
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本