发明名称 带检验信号监控功能的检验装置及遥控检验系统
摘要 本发明涉及带检验信号监控功能的检验装置及遥控检验系统。检验装置10包括:接口部1,按照PCI,ISA,PC卡等标准,控制与外部装置的连接;基板检验部2,从外部装置经接口部1输入检验用数据,将该检验用数据通过外部输出端3向被检验基板输出,从被检验基板输出与检验用数据对应的处理后数据,再经外部输入端4输入,根据该处理后数据判定该被检验基板是否合格;监控部5,取入基板检验部2与外部输出端3之间传送的检验用数据,取入基板检验部2与外部输入端4之间传送的处理后数据,作为监控用信号,经接口部1向外部装置输出。按照本检验装置,不需要设置观测探测器,能监控与实机环境相同的电路基板的信号。
申请公布号 CN1605882A 申请公布日期 2005.04.13
申请号 CN200410085249.3 申请日期 2004.10.09
申请人 株式会社理光 发明人 小泉几夫
分类号 G01R31/28;G01R31/304 主分类号 G01R31/28
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 杨梧;邵亚丽
主权项 1.一种具有检验信号监控功能的检验装置,其特征在于,包括:接口部,控制与外部装置连接;基板检验部,从上述外部装置经上述接口部输入检验用数据,将该检验用数据通过外部输出端向被检验基板输出,从上述被检验基板输出与上述检验用数据对应的处理后数据,再经外部输入端输入,上述基板检验部根据该处理后数据判定该被检验基板是否合格;监控部,取入上述基板检验部与外部输出端之间传送的检验用数据,取入上述基板检验部与外部输入端之间传送的处理后数据,作为监控用信号,经上述接口部,向上述外部装置输出。
地址 日本东京都