发明名称 | 荧光光谱仪外设组合试样库发光性能的测试方法及装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种荧光光谱仪外设组合试样库发光性能的测试方法及其装置,其是在传统的荧光光谱仪外设置一X-Y二维移动平台,将平行合成的组合试样库放置在X-Y二维移动平台上,将一组传输激发光光纤和一组接收发射光光纤分别从传统荧光光谱仪中引出并集中在一根光纤管内,通过其中一组光纤向试样导入激发光的同时,通过另一组光纤接收试样的发射光,以在荧光光谱仪中测试出试样的发光强度以及激发光谱和发射光谱;当一个试样测试完成后,光纤管不动,通过X-Y二维移动平台的移动,使组合试样库的下一个试样移至光纤管的测试位置,继续测试。本发明可以广泛用于各种发光材料的测试中,特别是在平行合成的组合试样库的测试中,操作更加方便快捷。 | ||
申请公布号 | CN1605857A | 申请公布日期 | 2005.04.13 |
申请号 | CN200410096495.9 | 申请日期 | 2004.12.02 |
申请人 | 北京大学 | 发明人 | 张显;荆西平;田曙坚 |
分类号 | G01N21/64;G01J1/00 | 主分类号 | G01N21/64 |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 徐宁;关畅 |
主权项 | 1、一种荧光光谱仪外设组合试样库发光性能的测试方法,其特征在于:在传统的荧光光谱仪外设置一X-Y二维移动平台,将平行合成的组合试样库放置在X-Y二维移动平台上,将一组传输激发光光纤和一组接收发射光光纤分别从传统荧光光谱仪中引出并集中在一根光纤管内,通过其中一组光纤向试样导入激发光的同时,通过另一组光纤接收试样的发射光,以在荧光光谱仪中测试出试样的发光强度、激发光谱和发射光谱;当一个试样测试完成后,光纤管不动,通过X-Y二维移动平台的移动,使组合试样库的下一个试样移至光纤管的测试位置,继续测试。 | ||
地址 | 100871北京市海淀区北京大学化学系 |