发明名称 检测曲面状非铸造金属膜片维氏硬度的方法
摘要 一种检测曲面状非铸造金属膜片维氏硬度的测量技术。首先在金属膜片上用经纬线划出网格区域(经纬线不一定等分,其所划出区域面积在9×10<sup>2</sup>~6×10<sup>4</sup>mm<sup>2</sup>之间),然后对各经纬线交点用数显超声便携式硬度计进行硬度测试。依据测得各点硬度值绘成沿经线和纬线方向的硬度分布曲线,作为判别整个膜片硬度状况的依据。上述硬度计测试前已经用标准试块校准过,并在此标准试块上进行有支架和无支架硬度测定时使其偏差在2HV<sub>F</sub>之内。本发明优点是在不改变膜片主要状态的情况下,在膜片上直接检测其硬度。用沿经纬线方向的硬度曲线来表达整个膜片的硬度状况。经硬度测试的膜片方可使用。这样既保证了检测质量直接、可靠又降低了成本。<pb pnum="1" />
申请公布号 CN106342209B 申请公布日期 2005.04.13
申请号 CN03105559.1 申请日期 2003.02.10
申请人 上海空间推进研究所 发明人 臧家亮;朱铭德
分类号 G01N3/40(2006.01)I 主分类号 G01N3/40(2006.01)I
代理机构 上海航天局专利中心 31107 代理人 冯和纯
主权项 一种检测曲面状非铸造金属膜片维氏硬度的方法,其特征在于测量前首先在金属膜片上用经纬线划出网格区域,然后对经纬线交点用数显超声便携式硬度计直接进行硬度测量,这样在保证检测前膜片主要状态不变的前提下用经线方向和纬线方向的硬度曲线,作为判别膜片硬度是否合格的依据。
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