发明名称 用于检验电路板装配品之检验与防护装置
摘要 一种用于检验电路板装配品之检验与防护装置,包括防护式检验台以及放大结构;该防护式检验台包括基台和透明板,该基台承载该电路板装配品,该透明板连接于该基台且遮盖于该电路板装配品的上方;该放大结构连接于该防护式检验台,放大结构并对应于该透明板;藉此,使检验人员与电路板装配品相隔离,而不会接触到电路板装配品之基板上的电子零件,从而避免更多电子零件的偏移或脱落,易于掌握电子零件置放于基板上所产生的问题,并可降低生产和研发的成本。
申请公布号 TWM261955 申请公布日期 2005.04.11
申请号 TW093207181 申请日期 2004.05.07
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 王振芳;高铭勤
分类号 H05K3/00 主分类号 H05K3/00
代理机构 代理人 谢宗颖 台北市大安区敦化南路2段71号18楼;王云平 台北市大安区敦化南路2段71号18楼
主权项 1.一种用于检验电路板装配品之检验与防护装置,包括:防护式检验台,其包括基台和透明板,该基台承载该电路板装配品,该透明板连接于该基台且遮盖于该电路板装配品的上方;以及放大结构,其连接于该防护式检验台,该放大结构并对应于该透明板。2.如申请专利范围第1项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该基台设有二平行的轨道,该电路板装配品的二相对侧缘对应导引于该二轨道内。3.如申请专利范围第1项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该透明板的二相对侧缘滑设于该基台,该放大结构滑设于该透明板,该放大结构的滑动轨迹的投影与该透明板的滑动轨迹相交错。4.如申请专利范围第3项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该基台设有二平行的滑槽,该透明板包括板体部和导引部,该板体部的二相对侧缘对应滑设于该二滑槽内,该板体部具有背对的下表面和上表面,该下表面朝向该电路板装配品,该导引部固接于该板体部的上表面,该导引部设有导槽,该导槽的投影和该基台的滑槽相交错,该放大结构系为放大镜,该放大镜的侧缘滑设于该导槽内。5.如申请专利范围第4项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该放大镜的侧缘设有导块,该导块滑设于该透明板之导引部的导槽内,该导槽的末端并组设挡块,该挡块挡止该导块。6.如申请专利范围第1项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该透明板的一侧缘枢设于该基台,该放大结构滑设于该透明板。7.如申请专利范围第6项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该防护式检验台包括枢接件,该透明板包括板体部和导引部,该枢接件的二端分别连接该基台和该透明板之板体部的一侧缘,该导引部滑设于该板体部,该放大结构滑设于该导引部,该放大结构的滑动轨迹与该导引部的滑动轨迹相交错。8.如申请专利范围第7项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该透明板之板体部具有背对的下表面和上表面,该下表面朝向该电路板装配品,该板体部设有滑槽贯通该下表面至该上表面,该滑槽自下表面穿设滑动件至上表面,该滑动件并固接该导引部于该上表面,该导引部设有导槽,该导槽的投影和该板体部之滑槽相交错,该放大结构系为放大镜,该放大镜的侧缘滑设于该导槽内。9.如申请专利范围第6项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该防护式检验台包括枢接件,该透明板包括板体部,该枢接件的二端分别连接该基台和该透明板之板体部的一侧缘,该板体部具有背对的下表面和上表面,该下表面朝向该电路板装配品,该板体部设有一滑槽贯通该下表面至该上表面,该滑槽自下表面穿设滑动件至上表面,该滑动件并固接该放大结构,该放大结构系为放大镜。10.如申请专利范围第1项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该透明板包括板体部,该板体部具有背对的下表面和上表面,该下表面朝向该电路板装配品,该放大结构系为一体连接于该下表面和该上表面之连续凸面。11.如申请专利范围第1项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其中该基台具有伸缩杆,该放大结构连接于该伸缩杆。12.如申请专利范围第1项所述之用于检验电路板装配品之检验与防护装置,其进一步包括光源,该光源设于该透明板或该放大结构。图式简单说明:第一图 系本创作第一实施例之立体分解图。第二图 系本创作第一实施例之立体组合图。第三图 系本创作第一实施例之平面示意图。第四图 系本创作第二实施例之立体分解图。第五图 系本创作第二实施例之立体组合图。第六图 系本创作第三实施例之立体分解图。第七图 系本创作第三实施例之立体组合图。第八图 系本创作第四实施例之立体组合图。第九图 系本创作第五实施例之立体组合图。
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