Speicherzellensignalfenstertestvorrichtung

摘要

Es werden eine Speicherzellensignalfenstertestvorrichtung 101 und ein Verfahren zum Testen des Signalfensters eines Speichers offengelegt. Erste Daten werden während eines Schreibzyklus in eine Speicherzelle geschrieben. Während eines ersten Lesezyklus wird ein Low-Zellensignal aus der Speicherzelle gelesen. Es wird ein Vergleich zwischen dem Low-Signal und einem Low-Referenzsignal durchgeführt. Das Ergebnis des Vergleichs wird in einem ersten Speicherregister gespeichert. Dann werden zweite Daten während eines Schreibzyklus in die Speicherzelle geschrieben. Während eines zweiten Lesezyklus wird ein High-Zellensignal aus der Speicherzelle gelesen. Es erfolgt ein Vergleich zwischen dem High-Zellensignal und einem High-Referenzsignal. Das Ergebnis des Vergleichs wird in einem zweiten Speicherregister gespeichert. Die Ergebnisse in dem ersten und dem zweiten Speicherregister werden verglichen, und es wird eine Ausgabe bereitgestellt, die anzeigt, daß die Speicherzelle den Test nicht bestanden hat, wenn der Vergleich zeigt, daß das Low-Zellensignal höher als das Low-Referenzsignal ist und das High-Zellensignal niedriger als das High-Referenzsignal ist.