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发明名称 Semiconductor Chip Tester using Computer
摘要
申请公布号 KR100481194(B1) 申请公布日期 2005.04.07
申请号 KR20020002817 申请日期 2002.01.17
申请人 发明人
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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