发明名称 |
半导体装置及其制造方法 |
摘要 |
一种半导体装置,包括:半导体衬底;形成在上述半导体衬底的上方,包括并含有第1导电型杂质的第1多晶硅膜和形成在第1多晶硅膜上的第1硅化物膜的第1布线;形成在上述半导体衬底的上方并包括与上述第1多晶硅膜连接的、含有第2导电型杂质的第2多晶硅膜和形成在第2多晶硅膜上的第2硅化物膜的第2布线;形成在与上述第1多晶硅膜和第2多晶硅膜的边界区域对应的部分上,并与上述第1硅化物膜和第2硅化物膜相连接的导电连接部;覆盖上述第1和第2布线,并具有其中设置上述导电连接部的孔的绝缘膜;在上述绝缘膜上边形成的上层布线;以及与上述导电连接部隔开形成的其它导电连接部,该其它导电连接部由与上述导电连接部相同的材料形成,上述绝缘膜还具有其中设置上述其它导电连接部的孔,该上层布线与上述其它导电连接部连接。 |
申请公布号 |
CN1196193C |
申请公布日期 |
2005.04.06 |
申请号 |
CN02120640.6 |
申请日期 |
2002.03.28 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
堤香里;福原成太;江泽弘和 |
分类号 |
H01L23/52;H01L23/532;H01L21/768 |
主分类号 |
H01L23/52 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
王以平 |
主权项 |
1、一种半导体装置,其特征在于包括:半导体衬底;第1布线,该第1布线形成在上述半导体衬底的上方,包括并含有第1导电型杂质的第1多晶硅膜和形成在第1多晶硅膜上的第1硅化物膜;第2布线,该第2布线形成在上述半导体衬底的上方并包括与上述第1多晶硅膜连接的、含有第2导电型杂质的第2多晶硅膜,和形成在第2多晶硅膜上的第2硅化物膜;导电连接部,该导电连接部形成在与上述第1多晶硅膜和第2多晶硅膜的边界区域对应的部分上,并与上述第1硅化物膜和第2硅化物膜相连接;绝缘膜,该绝缘膜覆盖上述第1和第2布线,并具有其中设置上述导电连接部的孔;在上述绝缘膜上边形成的上层布线;以及与上述导电连接部隔开形成的其它导电连接部,该其它导电连接部由与上述导电连接部相同的材料形成,上述绝缘膜还具有其它的孔,其中设置上述其它导电连接部,该上层布线与上述其它导电连接部连接。 |
地址 |
日本东京都 |