发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 一种半导体装置,包括:半导体衬底;形成在上述半导体衬底的上方,包括并含有第1导电型杂质的第1多晶硅膜和形成在第1多晶硅膜上的第1硅化物膜的第1布线;形成在上述半导体衬底的上方并包括与上述第1多晶硅膜连接的、含有第2导电型杂质的第2多晶硅膜和形成在第2多晶硅膜上的第2硅化物膜的第2布线;形成在与上述第1多晶硅膜和第2多晶硅膜的边界区域对应的部分上,并与上述第1硅化物膜和第2硅化物膜相连接的导电连接部;覆盖上述第1和第2布线,并具有其中设置上述导电连接部的孔的绝缘膜;在上述绝缘膜上边形成的上层布线;以及与上述导电连接部隔开形成的其它导电连接部,该其它导电连接部由与上述导电连接部相同的材料形成,上述绝缘膜还具有其中设置上述其它导电连接部的孔,该上层布线与上述其它导电连接部连接。
申请公布号 CN1196193C 申请公布日期 2005.04.06
申请号 CN02120640.6 申请日期 2002.03.28
申请人 株式会社东芝 发明人 堤香里;福原成太;江泽弘和
分类号 H01L23/52;H01L23/532;H01L21/768 主分类号 H01L23/52
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王以平
主权项 1、一种半导体装置,其特征在于包括:半导体衬底;第1布线,该第1布线形成在上述半导体衬底的上方,包括并含有第1导电型杂质的第1多晶硅膜和形成在第1多晶硅膜上的第1硅化物膜;第2布线,该第2布线形成在上述半导体衬底的上方并包括与上述第1多晶硅膜连接的、含有第2导电型杂质的第2多晶硅膜,和形成在第2多晶硅膜上的第2硅化物膜;导电连接部,该导电连接部形成在与上述第1多晶硅膜和第2多晶硅膜的边界区域对应的部分上,并与上述第1硅化物膜和第2硅化物膜相连接;绝缘膜,该绝缘膜覆盖上述第1和第2布线,并具有其中设置上述导电连接部的孔;在上述绝缘膜上边形成的上层布线;以及与上述导电连接部隔开形成的其它导电连接部,该其它导电连接部由与上述导电连接部相同的材料形成,上述绝缘膜还具有其它的孔,其中设置上述其它导电连接部,该上层布线与上述其它导电连接部连接。
地址 日本东京都