发明名称 | 半导体器件及其形成方法 | ||
摘要 | 薄膜半导体器件,例如TFT及其制造方法。TFT形成在绝缘衬底上。在该衬底上先形成基本上为非晶半导体涂层。再在该涂层上形成对激光辐射透明的保护涂层。用激光辐射照射该叠层,以改善半导体涂层的结晶度。然后,除去保护涂层使半导体涂层的表面露出。形成栅绝缘膜的涂层,随后形成栅电极。还涉及在绝缘衬底上制造半导体器件,例如TFT。形成主要由氮化铝组成的第1涂层后,再形成主要由氧化硅组成的第2涂层,其上可制作半导体器件。 | ||
申请公布号 | CN1196184C | 申请公布日期 | 2005.04.06 |
申请号 | CN99107111.5 | 申请日期 | 1993.07.06 |
申请人 | 株式会社半导体能源研究所 | 发明人 | 山崎舜平;张宏勇;竹村保彦 |
分类号 | H01L21/336;H01L29/78 | 主分类号 | H01L21/336 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张志醒 |
主权项 | 1.制造半导体器件的一种方法,其特征在于包括下列步骤:在一绝缘表面上形成含非晶硅的半导体膜;往所述半导体膜中掺入硼;在掺入所述硼之后晶化所述半导体膜;在所述半导体膜上形成栅绝缘膜;在所述栅绝缘膜上形成栅电极;通过掺入离子在所述半导体膜中形成源区和漏区,从而在该源区和漏区之间形成含所述硼的一个沟道区。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |