接续销

摘要

本发明之目的在提供一种测定LSI晶片等半导体元件之各种电气特性的探针卡所用之接续销。其特征在于：一种检查半导体元件的探针卡所用之接续销，该接续销是藉由金属蚀刻或压铸加工所制造，并具有U字型或V字型形状的弹性部。