发明名称 | 蚀刻设备之报废遮蔽环回收再利用的方法 | ||
摘要 | 一种用于蚀刻设备之遮蔽环结构,主要是针对蚀刻设备上之基材(如:晶圆)的边缘及背面提供对沉积物质的屏蔽,以避免基材上晶片的积集度受到沉积粒子破坏;其中当遮蔽环长时间使用下,亦会受到制程气流侵蚀而受损,因而其对于基材边缘的遮蔽效果就会受到影响,因此,本发明并提供了一种遮蔽环结构之回收再利用的方法,其主要是将受损之遮蔽环回收并重新再制,而省去了购买新的遮蔽环所花费的成本,首先,将受侵蚀之遮蔽环由原先之蚀刻设备移出,再将该遮蔽环表面受侵蚀受损的部分进行加工车削、研磨、清洗、雷射刻码、乾燥及检验等步骤,但其形状之要求仍以维持原先的形状,只是厚度受到改变,其中厚度需求可依不同规格之蚀刻设备予以加工再制,而适用更多不同机种的蚀刻设备重复利用,其中由于该遮蔽环的厚度确切因车削加工后而变薄,因此,可再利用填充物去充填及垫高该遮蔽环的高度,而依然可适用于原先之蚀刻设备或其他不同规格机型之蚀刻设备者,故藉由本发明之方法,即不需添购新的遮蔽环,即可降低材料成本、并减少废品的处理及费用、而且具环保。 | ||
申请公布号 | TW200512809 | 申请公布日期 | 2005.04.01 |
申请号 | TW092125777 | 申请日期 | 2003.09.18 |
申请人 | 崇越科技股份有限公司 | 发明人 | 郭智辉;刘馨文 |
分类号 | H01L21/205 | 主分类号 | H01L21/205 |
代理机构 | 代理人 | 林宜宏 | |
主权项 | |||
地址 | 台北市大安区信义路4段236号11楼 |