| 主权项 |
1.一种颤动测定电路,系具备有: 基准信号产生部,系产生具有预定周期之周期性基 准信号; 转换部,系藉由将上述基准信号、与从测定对象所 输出的周期性受测信号中之一者,响应另一者而进 行取样,而获得样本数据列;以及 判断部,系根据从上述转换部中所获得的上述样本 数据列,而测定上述受测信号之颤动。 2.如申请专利范围第1项之颤动测定电路,其中,上 述判断部系根据从上述样本数据列中所获得的资 料信号频率成分,而测定上述颤动。 3.如申请专利范围第2项之颤动测定电路,其中,上 述判断部系藉由对上述样本数据列进行快速富立 叶转换(FFT,fast Fourier transform),而计算出上述资料 信号的频率成分。 4.如申请专利范围第2项之颤动测定电路,其中,上 述判断部系藉由将从上述资料信号频率成分中所 获得的信号杂音比与所希望的信号杂音比进行比 较,而测定上述颤动。 5.如申请专利范围第1项之颤动测定电路,其中,上 述颤动测定电路更具备有: 测试部,用以执行其他的判断测试;以及 控制部,用以控制上述测试部; 当测定上述颤动时,上述控制部系作为上述判断部 而动作。 6.如申请专利范围第1项之颤动测定电路,其中,上 述颤动测定电路更具备有:用以储存着资料的储存 部, 而上述储存部系预先储存上述判断部之上述测定 中所采用的资料。 7.如申请专利范围第6项之颤动测定电路,其中,上 述颤动测定电路更具备有:用以执行其他判断测试 的测试部, 而上述储存部系储存上述测试部中所采用的资料 。 图式简单说明: 第1图系本发明实施例1中之颤动测定电路、与测 定对象的DUT5之概念图。 第2图系本发明实施例1中之颤动测定电路的动作 流程图。 第3图系本发明实施例1之变形例1中之颤动测定电 路、与测定对象的DUT之概念图。 第4图系本发明实施例1之变形例1中之颤动测定电 路的动作流程图。 第5图系本发明实施例2中之半导体测试装置、与 测定对象的DUT之概念图。 第6图系本发明实施例2之变形例1中之半导体测试 装置、与测定对象的DUT之概念图。 第7图系本发明实施例2之变形例2中之半导体测试 装置、与测定对象的DUT之概念图。 第8图系本发明实施例2之变形例3中之半导体测试 装置、与测定对象的DUT之概念图。 第9图系本发明实施例2之变形例4中之半导体测试 装置、与测定对象的DUT之概念图。 第10图系本发明实施例2之变形例5中之半导体测试 装置、与测定对象的DUT之概念图。 第11图系本发明实施例3中之元件介面埠及半导体 测试装置的概念图。 第12图系本发明实施例4中之半导体装置的概念图 。 |
