| 摘要 |
<p>Es wird beschrieben ein Mehr-Photonen-Fluoreszenzmikroskop (M) mit einem Anregungsstrahlengang, der ein Objektiv (2) aufweist, das Anregungsstrahlung (1) in einem Fokuspunkt (4) in der Probe (5) bündelt, einer Scan-Einrichtung, die den Fokuspunkt (4) zumindest eindimensional verstellt und einer Detektoreinrichtung, die in der Probe durch Mehr-Photonen-Anregung stimulierte Fluoreszenzstrahlung aufnimmt, wobei die Detektoreinrichtung einen Flächendetektor (9) aufweist, der sich auf der dem Objektiv (2) gegenüberliegenden Seite der Probe (5) befindet.</p> |
