发明名称 |
Ar气保护下生长N-Al共掺杂p型ZnO晶体薄膜的方法 |
摘要 |
本发明的Ar气保护下生长N-Al共掺杂p型ZnO晶体薄膜的方法采用的是磁控溅射法,反应室真空度抽至至少4×10<SUP>-3</SUP>Pa,以铝的质量百分含量为0.1~0.3%的锌铝合金为靶材,以纯度99.99%以上的N<SUB>2</SUB>O和纯度99.99%以上的Ar作为溅射气氛,Ar的分压为气体总压强的15~25%,将两种气体分别由气体流量计控制输入装置的缓冲室,在缓冲室充分混合后引入真空反应室,在3~5Pa压强下,将衬底加热到温度为450~550℃,进行溅射生长,在衬底上沉积N-Al共掺的p型ZnO晶体薄膜。本发明方法制得的晶体薄膜具有较好的掺杂均匀性、可重复性和稳定性,良好的光学性能和p型传导特性。 |
申请公布号 |
CN1601710A |
申请公布日期 |
2005.03.30 |
申请号 |
CN200410067001.4 |
申请日期 |
2004.09.30 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
叶志镇;吕建国;曾昱嘉;赵炳辉 |
分类号 |
H01L21/363 |
主分类号 |
H01L21/363 |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人 |
韩介梅 |
主权项 |
1.Ar气保护下生长N-Al共掺杂p型ZnO晶体薄膜的方法,其特征是:将衬底清洗后放入直流反应磁控溅射装置的反应室中,反应室真空度抽到至少4×10-3Pa,以铝的质量百分含量为0.1~0.3%的锌铝合金为靶材,以纯度99.99%以上的N2O和纯度99.99%以上的Ar作为溅射气氛,Ar的分压为气体总压强的15~25%,将两种气体分别由气体流量计控制输入装置的缓冲室,在缓冲室充分混合后引入真空反应室,在3~5Pa压强下,将衬底加热到温度为450~550℃,进行溅射生长,在衬底上沉积N-Al共掺的p型ZnO晶体薄膜,沉积时间为20~40min。 |
地址 |
310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |