Method for compensating temperature in semiconductor test handler,申请号KR20020043677-传众专利搜索

发明名称	Method for compensating temperature in semiconductor test handler
摘要
申请公布号	KR100479988(B1)	申请公布日期	2005.03.30
申请号	KR20020043677	申请日期	2002.07.24
申请人		发明人
分类号	G01R31/26;H01L21/66;G01K15/00;G01R1/44;G01R31/28;(IPC1-7):H01L21/66	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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