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经营范围
发明名称
Formation method of trench oxide in semiconductor device
摘要
申请公布号
KR100478496(B1)
申请公布日期
2005.03.29
申请号
KR20020076825
申请日期
2002.12.05
申请人
发明人
分类号
H01L21/762;(IPC1-7):H01L21/762
主分类号
H01L21/762
代理机构
代理人
主权项
地址
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