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发明名称 Probe card for testing semiconductor
摘要
申请公布号 KR200380247(Y1) 申请公布日期 2005.03.29
申请号 KR20050000362U 申请日期 2005.01.06
申请人 发明人
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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