发明名称 Vorrichtung und Verfahren zum Testen von Halbleiterspeichern
摘要
申请公布号 DE10037988(B4) 申请公布日期 2005.03.17
申请号 DE20001037988 申请日期 2000.08.03
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 RIEGER, MARTIN
分类号 G11C29/00;G11C29/24;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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