发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY COMPONENT AND METHOD FOR OPERATING SAID COMPONENT
摘要 <p>Halbleiter-Speicherbauelement, und Verfahren zum Betrieb eines Halbleiter-Speicherbauelements Die Erfindung betrifft ein Halbleiter-Speicherbauelement (1), und ein Verfahren zum Betrieb eines Halbleiter-­Speicherbauelements (1), welches mehrere Speicherzellen-Affays (3a, 3b, 3c, 3d) aufweist, die jeweils mehrere Speicherzellen-Sub-Arrays (8a, 8b, 8c, 8d) aufweisen, wobei das Verfahren die Schritte aufweist: Aktivieren (ACT) eines ersten Speicherzellen-Sub-Arrays (8a) oder von - in einer ersten Menge von Speicher7ellen enthaltenen - Speicherzellen des ersten Speicher7ellen-Sub-Arrays (8a), insbesondere von in ein- und derselben Zeile oder Spalte des ersten Speicherzellen Sub-Arrays (8a) liegenden Speicherzellen, wenn auf eine oder mehrere der in dem ersten Speicherzellen-Sub-Array (8a) oder in der ersten Menge von Speicherzellen enthaltenen Speicherzellen zugegriffen werden soll; Zugreifen (RD) auf die entsprechende Speicherzelle oder Speicherzellen; d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, dass das Verfahren zusätzlich den Schritt aufweist: Belassen des ersten Speicherzellen-Sub-Arrays (8a) oder der - in der ersten Menge von Speicherzellen enthaltenen -Speicherzellen des ersten Speicherzellen-Sub-Arrays (8a) im aktivierten Zustand, wenn ein Zugriff auf eine oder mehrere weitere Speicherzellen erfolgen soll, die in einem zweiten Speicherzellen-Sub-Array (8c) desselben Speicherzellen-Arrays (3a, 3b, 3c, 3d) enthalten sind, wie der erste Speicherzellen-Sub-Array (8a).</p>
申请公布号 WO2005024837(A1) 申请公布日期 2005.03.17
申请号 WO2004EP51433 申请日期 2004.07.09
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;BROX, MARTIN 发明人 BROX, MARTIN
分类号 G11C8/12;G11C7/22;G11C11/4076;G11C11/4096;(IPC1-7):G11C11/409 主分类号 G11C8/12
代理机构 代理人
主权项
地址