发明名称 金属氧化半导体电晶体的制造方法
摘要 一种金属氧化半导体电晶体的制造方法,系提供一基底,其中于基底上形成有一闸极结构,再于闸极结构侧壁形成一第一间隙壁,接着,对基底进行一预非晶矽化植入制程,以使部分基底非晶矽化,再于第一间隙壁两侧之基底中形成一源极/汲极延伸掺杂区,然后,于第一间隙壁的侧壁形成一第二间隙壁,再于第二间隙壁两侧之基底中形成一源极/汲极掺杂区,其后,进行一预回火制程,再进行一固相磊晶制程,以使非晶矽化之部分基底再结晶,并活性化源极/汲极延伸掺杂区与源极/汲极掺杂区以形成一源极/汲极,之后再进行一后回火制程。
申请公布号 TW200511506 申请公布日期 2005.03.16
申请号 TW092124424 申请日期 2003.09.04
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 王俞仁;简金城;王湘莹;杨能辉
分类号 H01L21/8234 主分类号 H01L21/8234
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号