发明名称 | 一种制作沟渠电容浅沟绝缘之方法 | ||
摘要 | 本发明系提供一种与逻辑制程相容之沟渠电容浅沟绝缘制程。本发明制作方法包含有提供一半导体基底,其上具有一硬遮罩,其中该半导体基底上已制作有复数个深沟渠电容结构,各该深沟渠电容结构包含有电容电极、电容介电层、电容下电极以及颈氧化层;于该半导体基底上沈积一介电层;将该介电层平坦化至该硬遮罩表面,剩余之介电层则填满该深沟渠电容结构上方之凹陷缺口;于该半导体基底上沈积一缓冲层;于该缓冲层上形成定义有浅沟绝缘图案开口之光阻遮罩;进行一电浆乾蚀刻,经由该浅沟绝缘图案开口,利用该介电层以及该头氧化层作为蚀刻遮罩,保护各该深沟渠电容结构,选择性地蚀刻该缓冲层、该硬遮罩,最后蚀刻该半导体基底,形成绝缘浅沟;以及于该绝缘浅沟内填入沟渠绝缘材料。 | ||
申请公布号 | TW200511487 | 申请公布日期 | 2005.03.16 |
申请号 | TW092124741 | 申请日期 | 2003.09.08 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 苏怡男;孙嘉骏 |
分类号 | H01L21/76 | 主分类号 | H01L21/76 |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |