发明名称 一种制作沟渠电容浅沟绝缘之方法
摘要 本发明系提供一种与逻辑制程相容之沟渠电容浅沟绝缘制程。本发明制作方法包含有提供一半导体基底,其上具有一硬遮罩,其中该半导体基底上已制作有复数个深沟渠电容结构,各该深沟渠电容结构包含有电容电极、电容介电层、电容下电极以及颈氧化层;于该半导体基底上沈积一介电层;将该介电层平坦化至该硬遮罩表面,剩余之介电层则填满该深沟渠电容结构上方之凹陷缺口;于该半导体基底上沈积一缓冲层;于该缓冲层上形成定义有浅沟绝缘图案开口之光阻遮罩;进行一电浆乾蚀刻,经由该浅沟绝缘图案开口,利用该介电层以及该头氧化层作为蚀刻遮罩,保护各该深沟渠电容结构,选择性地蚀刻该缓冲层、该硬遮罩,最后蚀刻该半导体基底,形成绝缘浅沟;以及于该绝缘浅沟内填入沟渠绝缘材料。
申请公布号 TW200511487 申请公布日期 2005.03.16
申请号 TW092124741 申请日期 2003.09.08
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 苏怡男;孙嘉骏
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号