发明名称 | 测试装置及测试方法 | ||
摘要 | 一种测试装置及测试方法,用于测试电子元件的测试装置。测试装置包括:根据所输入的输入信号,输出用于测试电子元件的输出信号之多数个信号提供部、使输出信号进行回圈,并作为输入信号输入到用于输出各个输出信号的信号提供部之回圈电路、在各个信号提供部,对从输入信号被输入开始到回圈信号被输入为止的周期进行测定之计数器部、用于控制信号提供部将输出信号进行输出的时序,以使计数器部所测定的各个信号提供部的周期大致相同之控制部。 | ||
申请公布号 | TW200510745 | 申请公布日期 | 2005.03.16 |
申请号 | TW093127622 | 申请日期 | 2004.09.13 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 上林弘典 |
分类号 | G01R31/28 | 主分类号 | G01R31/28 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |