用于扫描装置上检测透光式底片上缺陷的方法

摘要

本发明提供一种用于扫描装置上检测一透光式底片上缺陷的方法。该方法是先对该透光式底片曝光一第一预定时间以产生一第一图像，接着，再对该透光式底片曝光一第二预定时间以产生一第二图像。而后，利用一单色光传感器的饱和程度并依据该第一及第二预定时间的时间比，比较该第一及第二图像的差异，以检测该透光式底片上的缺陷。

主权项

1.一种用于扫描装置上检测一透光式底片上缺陷的方法，该扫描装置包含有一光源，用来对该透光式底片曝光，该方法包含有：使用该光源对该透光式底片曝光一第一预定时间以产生一第一图像；使用该光源对该透光式底片曝光一第二预定时间以产生一第二图像；依据该第一及第二预定时间的时间比，比较该第一及第二图像的差异以检测该透光式底片上的缺陷，其中若该第一及第二图像中相对应的多个像素的亮度并非依据该第一及第二预定时间的时间比成一预定比例，则判定产生该多个像素的底片位置为缺陷位置。