| 发明名称 | 能以数字量观测降压转换器输出的半导体集成电路 | ||
| 摘要 | 由于利用芯片上的A/D转换器对VDC电路的输出电压进行了A/D转换，所以可以将VDC电路的输出电压VDCout作为数字量进行观测，因而测定变得容易。令人满意的是通过减少端子可以减小芯片尺寸。另外，可以将用于输出电压VDCout的端子用于其它用途。因此，可以提供在求得批量生产检测容易的同时，还能够减少批量生产检测工时的半导体集成电路。 | ||
| 申请公布号 | CN1595807A | 申请公布日期 | 2005.03.16 |
| 申请号 | CN200410061747.4 | 申请日期 | 2004.06.30 |
| 申请人 | 株式会社瑞萨科技 | 发明人 | 中野直佳;那须隆 |
| 分类号 | H03M1/12 | 主分类号 | H03M1/12 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 刘宗杰;叶恺东 |
| 主权项 | 1.一种半导体集成电路，具备：接受从外部施加的外部电源电压的第1端子；降低上述外部电源电压、产生内部电压的电压发生电路；使用上述内部电压的内部电路；将上述内部电压从模拟值转换为数字值向外部输出数字信号的A/D转换电路；以及用于将上述数字信号输出至外部的第2端子。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||