发明名称 | 涡街质量流量测量方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种涡街质量流量测量方法。在涡街流量计的涡街发生体的上游(1/2)D~D处开一取压孔,在涡街发生体的下游(1/2)D内开另一取压孔,用差压传感器测量涡街发生体上、下游的差压,输出的差压信号分两路,一路取差压的平均值,得到压力降ΔP,另一路测量差压信号的波动频率f,两者相除后,再乘上相关的仪表系数,可直接得到质量流量。本发明是对质量流量的一种直接测量,结构简单,无运动件,输出信号仅与流体质量流量有关,而且仪表系数不受流体的温度、压力、成分、粘度和密度的影响,具有测量准确度高、应用范围广、使用寿命长等特点,可用于气体、液体和蒸汽的质量流量测量。 | ||
申请公布号 | CN1595072A | 申请公布日期 | 2005.03.16 |
申请号 | CN200410025765.7 | 申请日期 | 2004.06.29 |
申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 张宏建;黄咏梅;孙志强 |
分类号 | G01F1/90 | 主分类号 | G01F1/90 |
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 张法高 |
主权项 | 1、一种涡街质量流量测量方法,其特征在于:在涡街流量计的涡街发生体的上游<img file="A2004100257650002C1.GIF" wi="163" he="99" />处开一取压孔,在涡街发生体的下游<img file="A2004100257650002C2.GIF" wi="73" he="99" />内开另一取压孔,用差压传感器测量涡街发生体上、下游的差压,输出的差压信号分两路,一路取差压的平均值,得到压力降ΔP,另一路测量差压信号的波动频率f,两者相除后,再乘上相关的仪表系数,可直接得到质量流量。 | ||
地址 | 310027浙江省杭州市浙大路38号 |