发明名称 | 一种阵列化锰铜薄膜超高压力传感器及制备方法 | ||
摘要 | 本发明是提供了一种阵列化锰铜薄膜超高压力传感器及其制备方法,其特征是它包括形状为阵列式结构的N个压力敏感元件锰铜薄膜2和无机材料封装薄膜4;该传感器采用全薄膜工艺制作。本发明的传感器,消除了封装材料的高压旁路效应,可使传感器的测试精度达到为3~5%,响应时间缩短为20~40ns;具有一次可以高精度、高可靠性地测量大面积的超高压力的特点。本发明的传感器主要用于测试强冲击波的压力,如主要应用在测量装甲、核武器爆炸冲击波的压力测量等国防领域中。 | ||
申请公布号 | CN1595084A | 申请公布日期 | 2005.03.16 |
申请号 | CN03135791.1 | 申请日期 | 2003.09.09 |
申请人 | 电子科技大学 | 发明人 | 杨邦朝;段建华;杜晓松;周鸿仁;崔红玲;徐蓓娜 |
分类号 | G01L1/18 | 主分类号 | G01L1/18 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1、一种阵列化锰铜薄膜超高压力传感器,包括基板1、电极3、后置件5,其特征是它还包括形状为阵列式结构的N个压力敏感元件锰铜薄膜2和无机材料封装薄膜4,所述的阵列式结构是指由N个压力敏感元件锰铜薄膜2均匀对称分布、且每个压力敏感元件锰铜薄膜2均连接四个电极3所构成的结构;形状为阵列式结构的N个压力敏感元件锰铜薄膜2沉积在基板1上面,再沉积N×4个电极3,然后在压力敏感元件锰铜薄膜2和电极3的表面上沉积无机材料封装薄膜4,最后在无机材料封装薄膜4上面粘贴后置件5,将整个传感器封装起来,这样就构成了本发明的阵列化锰铜薄膜超高压力传感器。 | ||
地址 | 610054四川省成都市建设北路二段四号 |