发明名称 Semiconductor memory device for reducing package test time
摘要
申请公布号 KR100476393(B1) 申请公布日期 2005.03.16
申请号 KR20020035457 申请日期 2002.06.24
申请人 发明人
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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