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"PROCESSO PARA MEDIçãO DA ESPESSURA DE DISCO óTICO". Descreve-se um processo para medição da espessura de um disco ótico, pelo uso de um efeito de interferência da camada de disco ótico. O processo inclui a detecção de uma intensidade de uma luz refletiva, de acordo com um comprimento de onda de uma luz, como dados espectrais para cada comprimento de onda, conversão dos dados espectrais detectados para cada comprimento de onda em um valor espectral, como uma função de um comprimento de onda em que um índice refrativo é refletido, e detecção de uma posição onde a intensidade da luz refletiva possui um pico, como uma espessura de uma camada espaçadora e uma camada de cobertura, respectivamente, pela conversão do valor convertido em um comprimento de uma área de interferência para representação de uma espessura de camada do disco ótico pela Transformada Rápida de Fourier. O processo divulgado possui vantagens para medição com alta precisão da espessura de um disco ótico.
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